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公司地址：杭州市西湖科技園區(qū)振華路200號
郵編：310030
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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
GE-XP谷物品質(zhì)圖像分析系統(tǒng)應(yīng)用圖像自動分析系統(tǒng)測定谷物雜質(zhì)和不完善粒的檢測設(shè)備。適用于各類谷物的檢測。該系統(tǒng)集計算機技術(shù)與圖像處理技術(shù)于一體，通過CCD攝像機、進料機構(gòu)、驅(qū)動機構(gòu)和出料機構(gòu)以及圖像自動采集系統(tǒng)
詳情介紹：
GE-XP谷物品質(zhì)圖像分析系統(tǒng)應(yīng)用圖像自動分析系統(tǒng)測定谷物雜質(zhì)和不完善粒的檢測設(shè)備。適用于各類谷物的檢測。該系統(tǒng)集計算機技術(shù)與圖像處理技術(shù)于一體，通過CCD攝像機、進料機構(gòu)、驅(qū)動機構(gòu)和出料機構(gòu)以及圖像自動采集系統(tǒng)，經(jīng)圖像處理和BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的分類算法，達到對于標準麥、破損麥和異種糧霉變糧的自動識別。
主要性能指標：
1. 稻谷：未熟粒、蟲蝕粒、病斑粒、生芽粒、霉變粒。識別準確率≥95%
2. 小麥：破損粒、蟲蝕粒、病斑粒、生芽粒、霉變粒。識別準確率≥95%
3. 玉米：破損粒、蟲蝕粒、病斑粒、生芽粒、霉變粒、熱損傷粒。識別準確率≥95%
4. 大米：堊白粒率、粒型、黃粒米、堊白度。識別準確率≥95%
